描述：JKZC-JD01高頻絕緣材料介電常數介質損耗測試系統由測試裝置（夾具）、型高頻主機、數據采集和tanδ自動測量控件及校準電感器組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平

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2025-10-19
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應用領域	環保,能源,電子/電池,航空航天,綜合

JKZC-JD01型高頻絕緣材料介電常數及介質損耗測試系統介電常數測試儀

關鍵詞：介電常數（ε），介質損耗（tanδ），絕緣材料

JKZC-JD01型高頻絕緣材料介電常數

JKZC-JD01高頻絕緣材料介電常數介質損耗測試系統由測試裝置（夾具）、型高頻主機、數據采集和tanδ自動測量控件及校準電感器組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用主機作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過公式計算得到,設備能夠自動計算介電常數（ε）和介質損耗（tanδ），是電氣材料研究和高等院校的重要設備。

介電常數測試儀適用標準

1 、GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法

2 、GBT 1693-2007 硫化橡膠介電常數和介質損耗角正切值的測定方法

3 、ASTM-D150-介電常數測試方法

4、GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質損耗和介電常數的測

介電常數/介質損耗測試系統系統組成：

應用范圍:
1 固體材料：絕緣導熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學膠,環氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA,大等

2 液體材料：去離子水,全氟聚醚,果汁,,甲醇,油類等

功能名稱：	JKZC-JD01	JKZC-JD02	JKZC-JD03
頻率	10KHZ-70MHz	10KHZ-110MHz	100KHZ-160MHz
信號源頻率覆蓋比	7000:1	11000:1	16000:1
信號源頻率精度 6位有效數	3×10-5 ±1個字	3×10-5 ±1個字	3×10-5 ±1個字
采樣精度	11BIT	11BIT	12BIT 高精度的AD采樣，了Q值的穩定性，以及低介質損耗材料測試時候的穩定性
Q測量范圍	1-1000自動/手動量程	1-1000自動/手動量程	1-1000自動/手動量程
Q分辨率	4位有效數,分辨率0.1	4位有效數,分辨率0.1	4位有效數,分辨率0.1
Q測量工作誤差	<5%	<5%	<5%
電感測量范圍 4位有效數,分辨率0.1nH	1nH-8.4H ,分辨率0.1nH	1nH-8.4H 分辨率0.1nH	1nH-140mH分辨率0.1nH
電感測量誤差	<3%	<3%	<3%
調諧電容	主電容30-540pF	主電容30-540pF	主電容17-240pF
電容直接測量范圍	1pF～2.5uF	1pF～2.5uF	1pF～25nF
調諧電容誤差分辨率	±1pF或<1% 0.1pF	±1pF或<1% 0.1pF	±1pF或<1% 0.1pF
諧振點搜索	自動掃描	自動掃描	自動掃描
Q合格預置范圍	5-1000聲光提示	5-1000聲光提示	5-1000聲光提示
Q量程切換	自動/手動	自動/手動	自動/手動
LCD顯示參數	F，L，C，Q，Lt，Ct波段等	F，L，C，Q，Lt，Ct波段等	F，L，C，Q，Lt，Ct波段等
自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能()	有	有	有
大電容值直接測量顯示功能()	測量值可達2.5uF	測量值可達2.5uF	測量值可達25nF
介質損耗系數	精度萬分之三	精度萬分之三	精度萬分之一
介損系數	萬分之一	萬分之一	萬分之一
介電常數	精度千分之一	精度千分之一	精度千分之一
材料測試厚度	0.1mm-10mm	0.1mm-10mm	0.1mm-10mm